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Tel:193378815622019年9月5日 碳化硅功率器件整个生产过程大致如下图所示,主要会分为碳化硅单晶生产、外延层生产、器件制造三大步骤,分别对应产业链的衬底、外延、器件和模组三大环节。 碳化硅 2024年2月1日 SiC衬底的加工主要分为切割、研磨和抛光,下面将展开具体分析。 SiC晶锭切割技术分析. 作为SiC衬底加工的第一道工序,切割工艺和方法直接影响SiC衬底的表面质量粗糙度 (Ra)、总厚度偏差 (TTV)、翘曲度 (BOW)、弯曲 半导体碳化硅(SiC) 衬底加工技术进展详解; - 知乎专栏
查看更多2022年12月1日 实现碳化硅离子注入的方法. 在碳化硅工艺制造过程中,典型的高能离子注入设备主要由离子源、等离子体、吸出组件、分析磁体、离子束、加速管、工艺腔和扫描盘等组成, 2023年6月22日 碳化硅是怎么制成的? 最简单的碳化硅制造方法是在高达 2500 摄氏度的高温下熔化硅砂和碳(例如煤)。颜色更深、更常见的碳化硅通常包含铁和碳杂质,但纯 SiC 晶体是 什么是碳化硅 (SiC)?用途和制作方法 - Arrow
查看更多3 天之前 碳化硅晶片生产流程. 碳化硅晶片以高纯硅粉和高纯碳粉作为原材料,采用物理气相传输法(PVT)生长碳化硅单晶,再在衬底上使用化学气相沉积法(CVD法)等生成外延片,最后制成相关器件。 1、原料合成:将高纯硅粉和 2016年3月9日 在众多的半导体材料中,碳化硅 (Silicon Carbide, 简称SiC)以其良好的物理和电学性能成为继承锗、硅、砷化镓之后新一代微电子器件和电路的半导体材料。 表1列出了几种重 深入探讨碳化硅工艺:半导体材料的新一代继承者 - 世强硬 ...
查看更多2024年5月31日 SiC JTE(结延伸区)是用于改善硅碳化物(SiC)功率器件电压阻断能力的结构。 SiC JTE的设计对于实现所需的击穿电压并避免因器件边缘处高电场而导致的过早击穿至关 2019年6月13日 目前生长碳化硅单晶最成熟的方法是物理气相输运(PVT)法,其生长机理是:在超过2000 ℃高温下将碳粉和硅粉升华分解成为Si原子、Si2C分子和SiC2分子等气相物质,在温度梯度的驱动下,这些气相物质将被 系列详解第三代半导体发展之碳化硅(SiC)篇_材料
查看更多2019年6月13日 二是碳化硅芯片主要的工艺设备基本上被国外公司所垄断,特别是高温离子注入设备、超高温退火设备和高质量氧化层生长设备等,国内大规模建立碳化硅工艺线所采用的关键设备基本需要进口。三是碳化硅器件高端检测设 2021年12月24日 因为以后要用到大量的这种材料因此想了解一下这种材料的生产工艺。比如,当前主流的生产工艺是什么?优缺 第二个应用是中低压输配电,为了提高效率,需要利用SiC器件实现中低压输电,一般采用MMC结构。我想了解一下碳化硅的生产工艺? - 知乎
查看更多2024年5月31日 如果从结构上来说,硅和碳化硅MOSFET是一样的,但是从制造工艺和设计上来说,由于碳化硅材料和硅材料的特性导致它们要考虑的点大部分都不太一样。比如SiC大量使用了干蚀刻(Dry etch),还有高温离子注入工艺,注入的元素也不一样。2020年6月10日 为了获得纯碳化硅的致密陶瓷制品,以便最大限度地利用碳化硅本身的特性,所以发展了自结合反应烧结法和热压法制造工艺。 自结合碳化硅,就是将α-SiC与碳粉混合后,用各种成型方法成型,然后将坯体置于硅蒸气中加热,使坯体中的碳粉硅化变成β-SiC,而将α-SiC的颗粒紧密结合成致密制品。碳化硅的合成、用途及制品制造工艺
查看更多2024年1月26日 半导体碳化硅(SiC)是一种Si元素和C元素以1:1比例形成的二元化合物,即百分之五十的硅(Si)和百分之五十的碳(C),其基本结构单元为 Si-C 四面体。而碳化硅(SiC)晶体,就是由碳原子和硅原子有序排列而成。选择碳原子(硅也可以)形成最紧密堆积层2019年7月18日 啥是碳化硅(SiC )? 跟传统半导体材料硅相比,它 在击穿场强、禁带宽度、电子饱和速度、熔点以及热导率方面都有优势 ... 出产品原型,在2009年收购做SiC晶圆的德国材料厂商SiCrystal后,拥有了从晶棒生产、晶圆工艺到封装组装的完全垂直整合 ...带你全方位了解碳化硅(SiC) - ROHM技术社区 - eefocus
查看更多2019年7月25日 现在比较热门的话题碳化硅,和小编一起看看碳化硅: 半导体材料经过几十年的发展,第一代硅材料半导体已经接近完美晶体,对于硅材料的研究也非常透彻。基于硅材料上器件的设计和开发也经过了许多代的结构和工艺优2024年1月10日 高纯SiC粉料合成工艺 目前实验室中普遍采用改进的自蔓延法合成SiC,且合成过程中发现,不同的合成工艺参数对合成产物有一定影响 ... 中电科二所的研究人员发现,随着碳化硅合成反应温度的升高,合成的粉料颜色会逐渐变深,可能原因为温度 ...半导体高纯碳化硅 (SiC)粉料的合成方法及工艺探究的详解;
查看更多2023年7月7日 碳化硅介绍:三种SiC衬底制作方法对比-碳化硅的禁带宽度是硅的2-3倍,在高温下电子不易发生跃迁,可耐受更高的工作温度,且碳化硅的热导率是硅的4-5倍,使得器件散热更容易,极限工作温度更高。耐高温特性可以显著提升功率密度,同时降低对散热系统的要求,使终端更加轻量和小型化。2023年9月26日 碳化硅(silicon carbide,SiC)功率器件作为一种宽禁带器件,具有耐高压、高温,导通电阻低,开关速度快等优点。如何充分发挥碳化硅器件的这些优势性能则给封装技术带来了新的挑战:传统封装杂散电感参数较大,难以匹配器件的快速开关特性;器件高温工作时,封装可靠性降低;以及模块的多功能 ...碳化硅封装——三大主流技术! - 电子工程专辑 EE Times China
查看更多2023年3月13日 而碳化硅衬底的抛光工艺可分为粗抛和精抛,粗抛为机械抛光,主要用于去除研磨后衬底表面的损伤、进行平坦化处 理,目前较为主流的是使用化学机械抛光。外延工艺效率低:碳化硅的气相同质外延一般要在 1500℃以 2023年9月27日 碳化硅晶片生产工艺流程-采用碳化硅的器件具有耐高温、耐高压、大功率,还可以提高能量转换效率并减小产品体积等特点。本文的目的是分析碳化硅MOSFET的短路实验(SCT)表现。具体而言,该实验的重点是在不同条件下进行专门的实验室测量,并借助一个稳健的有限元法物理模型来证实和比较测量值 ...碳化硅晶片生产工艺流程 - 模拟技术 - 电子发烧友网
查看更多2023年7月7日 导电型碳化硅衬底主要应用于制造功率器件。与传统硅功率器件制作工艺不同,碳化硅功率器件不能直接制作在碳化硅衬底上,需在导电型衬底上生长碳化硅外延层得到碳化硅外延片,并在外延层上制造肖特基二极管、MOSFET、IGBT等功率器件。2023年8月10日 SiC晶体长晶技术的发展历史 1885年,Acheson[1]通过将焦炭与硅石混合后在电熔炉中加热的方法制备了SiC。 当时人们误认为这是一种钻石的混合物,并称之为金刚砂。1892年,他改进了合成工艺,将石英砂、焦炭、少量木屑和NaCl混合均匀后放在 ...SiC长晶技术简析:PVT、LPE、HTCVD - 知乎
查看更多2017年4月9日 来重结晶碳化硅材料的制备工艺、结构与性能特点、使用性能研究以及材料应用等方面进行了综述。0* 1 重结晶碳化硅材料的制备工艺研究 重结晶碳化硅材料的制备方法如下:以两种不同 粒度级配的高纯碳化硅为原料,添加适量临时结合剂2024年2月29日 衬底的表面状态,例如表面粗糙度,厚度均匀性都会直接影响外延工艺的质量。碳化硅 具有高硬度的特点,常用的适合碳化硅的磨料有碳化硼、金刚石等高硬度磨料。晶片研磨 抛光材料一般有氧化铝、氧化铈、氧化硅等。晶片抛光 ...碳化硅SiC衬底生产工艺流程及方法 - 知乎
查看更多2024年2月1日 研磨工艺目前市占率较高,通常包含粗磨和精磨两个环节,而且在化学机械抛光(CMP)之前还需要增加一道单面机械抛光(DMP)工艺,其优点是加工成本较低,其不足之处在于工序复杂,自动化程度很低,大尺寸晶圆加工破片风险较高,而且灵活度较低、难以单片加工2024年7月17日 摘要 使用化学机械抛光(CMP)方法对碳化硅晶片进行了超精密抛光试验,探究了滴液速率、抛光头转 速、抛光压力、抛光时长及晶片吸附方式等工艺参数对晶片表面粗糙度的影响,并对工艺参数进行了优化,最终 得到了表面粗糙度低于0.1 nm的原子级光滑碳化硅晶片。碳化硅晶片的超精密抛光工艺 - 电子工程专辑 EE Times China
查看更多2024年8月15日 工艺过程: 通过电弧放电产生高温等离子体,温度通常可达15,000°C以上。碳化硅粉末在等离子体的作用下被加热至熔融或半熔融状态,同时被高速气流携带至基材表面。当熔融的碳化硅颗粒撞击基材表面时,迅速冷却并凝固,形成致密的涂层。优势:2024年10月18日 KABRA工艺本质是上将激光聚焦在碳化硅材料的内部,通过“无定形黑色重复吸收”,将碳化硅分解成无定形硅和无定形碳,并形成作为晶圆分离基点的一层,即黑色无定形层,吸收更多的光,从而能够很容易地分离晶圆。 英飞凌冷切割技术顺应降本增效趋势,半导体碳化硅 (SiC) 衬底4种切割技术详解
查看更多2024年3月7日 半导体是国家大力发展的热门产业,而碳化硅作为一种先进的半导体材料,在应对高温、高频和高效率要求的应用中表现出色。目前,碳化硅晶体的生长技术和器件的制造工艺已达到高水平成熟度,并在全球范围内形成了完整的材料、器件和应用领域产业链。2022年11月2日 碳化硅特色工艺模块简介 碳化硅特色工艺模块主要涵盖注入掺杂、栅结构成型、形貌刻蚀、金属化、减薄工艺。(1) 注入掺杂 :由于碳化硅 中碳硅键能高,杂质原子在碳化硅中难以扩散,制备碳化硅器件时 PN结的 掺杂 SiC碳化硅器件制造那些事儿 - 电子工程专辑 EE
查看更多2016年3月9日 由于SiC原子结构中C-Si键键能较高,杂质扩散所要求的温度(>1800 °C)大大超过标准器件工艺的条件,传统的扩散掺杂工艺已经不能用于SiC的掺杂是最基本的器件工艺,主要靠离子注入和材料制备过程中的伴随掺杂来满足制造碳化硅器件的需要。2023年12月5日 生产工艺流程及周期 碳化硅 生产流程主要涉及以下过程: 1)单晶生长,以高纯硅粉和高纯碳粉作为原材料形成碳化硅晶体;2)衬底环节,碳化硅晶体经过切割、研磨、抛光、清洗等工序加工形成单晶薄片,也即半导体衬底材料 ...半导体碳化硅(SIC)产业链图谱详解; - 知乎
查看更多2023年10月27日 2 高纯碳化硅粉体的合成工艺 在众多 SiC 粉体的合成方法中,改进的自蔓延合成法原料便宜,合成质量稳定,合成效率高,成为目前工业上生产高纯 SiC 粉体最常用的方法。2022年4月24日 本文基于对碳化硅材料烧结行为、显微结构以及力学性能的认识,综述了碳化硅烧结工艺的发展及烧结助剂的选择标准,同时分析和介绍了碳化硅陶瓷材料在传统工业与现代科技领域的应用现状。 关键词:碳化硅陶瓷;烧结技术;烧结助剂;碳化硅应用 0 引 言国内外碳化硅陶瓷材料研究与应用进展 CERADIR 先进陶瓷在线
查看更多2024年4月28日 离子注入工艺是SiC器件制造中的重要环节,通过高温注入和退火处理,可以实现晶格恢复和高电激活率。最后,SiC氧化工艺中需要解决栅氧化层可靠性差的问题,采用SiO2钝化工艺可以改善栅氧化层的性能。2022年5月20日 工艺及设备简单,成本也低,但效率高,缺点就是反应中易引入新杂质。 王洪涛等[3]以SiC 粗粉为原料, 通过球磨工艺制备高性能超细SiC 微粉,制 ...碳化硅的制备及应用最新研究进展 - ResearchGate
查看更多2024年4月15日 碳化硅(SiC)器件具有击穿电压高、功率大、耐高温工作、可靠性高、损耗低等特点,是高压电力电子领域的热门研究器件,极其适合于电力系统应用。 由于碳化硅材料具有耐腐蚀、高硬度和易碎性等特点,使得其加工工艺比普通的硅、砷化镓等半导体材料要困难得多,因此碳化硅与硅、砷化镓 ...2024年1月23日 碳化硅功率器件掺杂工艺中,常用的掺杂元素有:N型掺杂,主要为氮元素和磷元素;P型掺杂,主要为铝元素和硼元素,它们的电离能和溶解极限见表1(注:hexagonal (h) and cubic (k))。 表1. SiC中主要掺杂剂的电离能和溶解极限【半导体】干货丨碳化硅离子注入和退火工艺介绍-电子工程专辑
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